LCR1000A射频阻抗测试仪
1 MHz 至 3 GHz
- 频率范围： 1 MHz~0.35 GHz/0.6 GHz/1.5 GHz/3 GHz
- 阻抗测试范围 140 mΩ-4.8 kΩ
- 基本测量精度高达 0.45%
- 测量速度高达 2.2 ms/点
- 全面兼容业界主流 LCR 表 SCPI指令集，且内置业界主流夹具的修正参数
- 国内首台基于射频I-V 测量法的 LCR 表，全面对标业界同类领先产品
主要功能
大规模元器件生产线自动化测试
随着无线通信技术的进步，元器件的阻抗测量范围不断扩大到数百赫兹甚至3 GHz。而电子产品以前所未有的速 度普及，导致元器件工厂的日产量跨过百万片级别。因此需要在保证测量准确性的前提下对元器件进行高效率的 测试，同时作为产线测试核心的仪器仪表须具备极高的可靠性。玖锦科技的LCR1000A射频阻抗测试仪的测量速 度快、工作稳定，完全符合生产线上对测试仪器高吞吐量、高可靠性的要求。
· 支持快速测量模式，高达2.2 ms/点的测量速度
· 支持8个表同时测量，每个表最多201个测试点
· 支持业界主流高精度夹具和校准件
· 内置机械手接口，适合全自动化生产线
· 全面兼容市场上主流的同类射频LCR表的SCPI指令
· 可靠性高，MTBF不小于5000小时
元器件的质检和来料筛选
元器件不断向高精度、高频段发展，这对其质检和筛选提出了更高要求。LCR1000A射频阻抗测试仪采用射频I-V测量方法进行阻抗测量，能够在1 MHz~3 GHz频率内对元器件进行精确测量；同时可根据不同的元器件自定义测量任务，灵活搭配待测参数，连接不同的夹具进行精密测量与结果分析。
· 支持所有常用的阻抗参数测量
· 最多支持13个Bin
· 自定义被测参数devia-tion/limit
· 提供兼顾测试精度与测试速度的通用测量模式
· 高级统计分析功能
· 高精度补偿功能和附件
新型元器件研发认证和失效分析
在新型元器件研发过程中，测量结果的精确度高低、设计细节的优劣直接决定研发的成败。而研发工程师对测试仪 器的多功能性有很高的要求，以便适应各种开发任务。玖锦科技LCR1000A凭借其极高的测试精度、丰富的测量功能，帮助广大研发工程师轻松应对挑战。
· 提供高精度测量模式，阻抗测量精度高达0.45%
· 支持自产或业界主流高精度夹具
· 业界最主流的高精度校准件和补偿件
· 自定义的功能键/参数
· 列表扫描测量，表格和绘图格式
· 高级统计分析功能
· 10.4英寸LCD触摸屏
