VNA6000B矢量网络分析仪
100 kHz/10 MHz~44 GHz/50 GHz / 67 GHz/ 110GHz
- 高动态范围优于 140 dB
- 2 端口 4 端口可选,1、2、4 源可选,可加第五个源(13.5 GHz)
- 高谐波抑制可达-57 dBc,足以支持有源互调测试
- 4 端口独立矢量源输出,8 个真正的并行接收机
- 中频带宽 1 Hz~30 MHz,超快的测量速度
- 支持标准 S 参数测量、脉冲 S 参数测量、时域测量、增益压缩测量、混频器测量、真差分测量、噪声系数测量、频谱分析测量、快速连续波扫描测量等功能
- 可通过 LAN、GPIB 控制仪器,远程控制指令兼容主流同类设备,SCPI 指令录制
主要功能
滤波器、耦合器等测试
VNA6000B矢量网络分析仪具有滤波器测试菜单,同时具备快速准确的分段扫描功能,可对滤波器通带阻带进行不同的扫描参数设置,快速高效准确的测量出滤波器频域内的所有指标(包括x dB带宽、中心频率、Q值、插损等)。
时域测量
随着信息产业的高速发展,对网络带宽的需求也越来越高,这就需要信息设备(如大型服务器、计算机和交换机等)能够承载的数据速率越来越快。信息设备生产商对高速互连通道中的信号完整性问题也愈发重视,TDR差分阻抗是其中一个重要测试项。
频偏测量
频偏测量模式具有将矢量网络分析仪源输出频率调节到不同于接收频率的功能。VNA6000B矢量网络分析仪在硬件和软件基础上为用户提供了频率偏移测量功能。
毫米波扩频
VNA6000B可以通过外部外接毫米波扩频模块进行扩频输入输出,用户只需要完成对模块的连接,即可完成毫米波段的各类型测试。VNA6000B网络分析仪同时在频率合成模块中采用了混频环的架构以获得低相位噪声的特性,在定向耦合器技术方面突破了12个倍频程的频率特性和高隔离度、高方向性的特性,攻克了接收机数字化非线性校正技术和多端口矢量网络误差修正算法。
嵌入式本振测量
嵌入式本振变频器在很多卫星转发器上都会用到,这是因为在卫星上器件的尺寸和重量都受到限制,同时为了防止出现不需要的杂散信号也都需要限制对安装在卫星上的变频器的本振信号的接触。如果接触不到变频器的本振信号或时基信号,就会给测量带来麻烦。
VNA6000B支持嵌入式本振测量功能可以完成内嵌本振群时延测试功能。可以通过简单的设置,让VNA寻找到本振的同时进行调谐测量。根据实际信号的频率峰值和理论信号的频率之差,我们可以确定适用于调整 VNA接收机调谐过程的频偏值。内部接收机扫描的频率跨度也可以由用户设定,最大可以设置为10 MHz,显然这要比实际变频器的频偏大得多。
自动化测试
VNA6000B矢量网络分析仪提供GPIB、LAN、USB等多种控制方式,用户只需完成设备互联,发送命令即可完成自动化测试集成。VNA6000B矢量网络分析仪稳定性高,测试速度快,能够对系统链路及通道进行快速幅相一致性校准,可以应用在滤波器、天线、TR组件等大规模自动测试生产线上。
光电测试
由VNA6000B矢量网络分析仪与光底座协同工作组成的LCA6000A,是一款基于微波光子融合技术的高性能测量系统,专为电光、光电及光光元器件的精确表征而设计。该系统将微波扫频的高精细度与电子幅相接收的低误差特性映射至光域,实现对上述三类元器件频域响应(包括幅度、相位、偏振、时延、群时延等)的大带宽、高精度、高分辨率测量。
VNA6000B搭配VNA6000B-VEX扩频单元,构成高性能微波毫米波测量分析系统,专为应对高频、高精度的复杂测量挑战而设计。可配置4端口4源矢量网络分析仪,对半导体器件表征/建模进行真差分测量,适用于6G研究、1.6 T、3.2 T及更高速率应用场景,以及光电器件与硅光晶圆/芯片的精确测试。
主要特点:
●9kHz/10MHz~20/26.5/40/43.5/50/67/110GHz全校准宽带单次扫描S参数测量配置;
●配合光底座可支持O、C、L及850nm等多波段光电测试,一体化集成电-光(E/O)、光-电(O/E)、光-光(O/O)和电-电(E/E)四种测量模式;
●全面表征电光调制器、光电探测器、光滤波器、复用器等多种芯片、器件及模块的频谱响应、S参数、群时延等关键参数
●可远程控制仪器,远程控制指令兼容主流同类设备,SCPI指令可实时录制
VNA6000B搭配VNA6000B-VEX扩频单元,构成高性能微波毫米波测量分析系统,专为应对高频、高精度的复杂测量挑战而设计。可配置4端口4源矢量网络分析仪,对半导体器件表征/建模进行真差分测量,适用于6G研究、1.6 T、3.2 T及更高速率应用场景,以及光电器件与硅光晶圆/芯片的精确测试。
主要特点:
●9kHz/10MHz~20/26.5/40/43.5/50/67/110GHz全校准宽带单次扫描S参数测量配置;
●配合光底座可支持O、C、L及850nm等多波段光电测试,一体化集成电-光(E/O)、光-电(O/E)、光-光(O/O)和电-电(E/E)四种测量模式;
●全面表征电光调制器、光电探测器、光滤波器、复用器等多种芯片、器件及模块的频谱响应、S参数、群时延等关键参数
●可远程控制仪器,远程控制指令兼容主流同类设备,SCPI指令可实时录制
OO测试
OE测试
EO测试